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26. DECUS Symposium 2003
Trainingskurs

T1G20: Microcontroller für Einzelanwendungen

Lernziel

Die Teilnehmer sollen in die Lage versetzt werden, den Einsatz von Microcontrollern als "Front-End" für übergeordnete Rechner und als eigenständige Mess- und Steuersysteme zu beurteilen, zu planen und auch selbst aufzubauen.

Inhalt

1. Teil
Der (gleichzeitige auch für das Symposium angekündigte) Vortrag "Microcontroller für Einzelanwendungen" gibt als Einleitung eine Übersicht über marktgängige, in BASIC zu programmierende Mikrokontroller (Basic-Tiger, C-Control etc.). Zur Beurteilung des Inhalts dieses Trainingskurses wird auf das Abstract dieses Vortrages verwiesen.
Anschließend wird detailliert auf die Betriebsysteme der ausgesuchten Microcontroller und die zugehörigen Entwicklungssysteme eingegangen. Beispiele aufgebauter Systeme zeigen die Vielfalt von Mess- und Steuersystemen, die mit den Mikrocontrollern realisiert werden können.
2. Teil
Die Teilnehmer sollen selbst an Entwicklungssystemen die Programmierung üben und einfache Mess- und Regelaufgaben lösen.

Termin und Dauer

am 07.04.2003 im Maritim Hotel Bonn (es sind noch Plätze verfügbar)
1 Tag

Zielgruppe und Voraussetzung

Entwicklungsingenieure, die an Aufgaben mit verteilter Intelligenz arbeiten oder aber einfache autarke Steuerungen mit minimalem Programmier- und Hardwareaufwand entwickeln wollen.

Grundkenntnisse in der Programmsprache BASIC. Ausreichend Kenntnisse in der Elektronik von Hardware und Verschaltung von kleinen Mess- und Steuersystemen.

Referent

Hans Peter Stoehrel, Universität Stuttgart
Studium des Bauingenieurwesens an den TH München und Stuttgart. Bereits als Student befasste sich Herr Stoehrel an einem Hochschulinstitut mit der Entwicklung von Sensoren und Messgeräten. 1968 Anschaffung des ersten Digital-Computers (PDP-8/L) zur Messwerterfassung und Auswertung. Seither vielfältige Tätigkeiten von der Universität aus, an der er bis heute tätig ist, in den Bereichen Bauingenieurwesen, Maschinenbau, Luftfahrt, Biologie u.a., ausgerichtet auf die Material- und Strukturprüfung, Steuerung von Messsystemen, Erfassung und Auswertung der Messwerte.

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